Наноточки и нанослои силицидов, германидов и станнидов магния в кремнии и германии и наногетероструктурах на их основе

项目来源

俄罗斯基础研究基金(RFBR)

项目主持人

Галкин Н.Г.

项目受资助机构

未公开

项目编号

13-02-00046

立项年度

2013

立项时间

未公开

研究期限

未知 / 未知

项目级别

国家级

受资助金额

未知

学科

未公开

学科代码

未公开

基金类别

(«а» (до 2016))(«а») инициативные научные проекты

关键词

未公开

参与者

未公开

参与机构

未公开

项目标书摘要:Аннотация к заявке: Существует достаточно широкий класс материалов – силицидов, которые могут эпитаксиально встраиваться в кремниевую кристаллическую решетку и значительно влиять как на оптические, так на электрические свойства системы кремний – силицид – кремний. Значительный интерес в качестве высокоэффективных термоэлектрических материалов имеют силициды, станниды и германиды магния, а также их тройные и четверные сплавы, свойства которых хорошо известны в объемном состоянии. В настоящее время полупроводниковые системы с пониженной размерностью (наноточки, нанопроволоки и нанослои) интенсивно исследуются с целью изучения фундаментальных свойств, связанных с квантованием энергетических уровней, а также в связи со значительным ограничением теплопроводности композитных материалов на их основе. Данный проект посвящен исследованию фундаментальной проблемы встраивания в кремний и германий с сингулярными поверхностями (111) и (100) двумерных слоев и/или наноточек полупроводникового станнида магния и, соответственно, германида магния, их тройных сплавов с силицидом магния, а также исследованию их структуры, теплопроводности, оптических, транспортных, включая тип проводимости, термоэлектрических и фотоэлектрических свойств, влияния толщины и размеров нанокристаллитов силицидов, станнидов, германидов, силицидо-станнидов и германид-станнидов магния на эти свойства, на безразмерную термоэлектрическую эффективность выращенных нанокомпозитных материалов и их спектральную фотопроводимость. Первой задачей является разработка подходов к росту и легированию станнида магния и силицид-станнида магния на кремниевых подложках с использованием в качестве затравочного слоя тонкого слоя олова на кремнии с последующим осаждением магния, а также – к росту двумерных слоев и наноточек сплава Mg2SixSn1-x и последующему созданию мультислойных нанокомпозитных материалов на их основе за счет увеличения числа нанокристаллических слоев до (4-8). Второй задачей проекта является разработка подхода к росту кремний-германиевых гетероструктур со встроенными в германиевый гетероэпитаксиальный слой на кремниевой подложке нанослоями и нанокристаллитами германида магния и германид-станнида магния (Mg2GexSn1-x), их легированию, исследованию их термоэлектрических свойств и построению на их основе фотоприемников с расширенным в ИК-область спектральным диапазоном. Основной особенностью проекта является использование методов исследования, встроенных или сопряженных со сверхвысоковакуумным оборудованием, что позволит изучать динамику изменения оптических и электрических свойств кремний – силицид (станнид) – кремниевых и кремний – германид (станнид) - германиевых нанокомпозитных материалов в процессе роста или сразу после него. Ex situ методики позволят исследовать морфологию, структуру, оптические, электрические, термоэлектрические, фотоэлектрические и теплопроводящие свойства созданных нанокомпозитов на основе кремния и германия. В результате выполнения проекта будут определены перспективные области применения созданных нанокомпозитных приборных гетероструктур в оптоэлектронике и термоэлектронике.Аннотация к отчету по результатам реализации проекта: Методами реактивной и твердофазной эпитаксии выращены двойные гетероструктуры (ДГС) Si/2D Mg2Si/Si(111) со встроенным двумерным слоем силицида магния. Установлено, что поликристаллический слой кремния поверх двумерного слоя силицида полностью покрывает его поверхность при температуре 180 оС и толщине около 4.5 нм. Показано, что поперечный транспорт носителей зависит от сплошности сформированного слоя силицида: если сплошность сохраняется, то это приводит к блокированию протекания тока за счет вымораживания носителей в слое силицида; если пленка разрывается на нанокристаллы, то поперечный транспорт в системе сохраняется как при комнатной температуре, так и при охлаждении. Установлено, что формирование слоя силицида магния сопровождается растворением атомов магния в кремниевой подложке и формированием глубоких донорных уровней в запрещенной зоне кремния с энергией активации 100 мэВ и 250 мэВ ниже дна зоны проводимости и концентрацией, сравнимой с концентрацией основных носителей в подложке. В 2х и 5ти слойных нанокомпозитах n- и р-типа со встроенными НК Mg2Si обнаружено значительное увеличение коэффициента термо-эдс (в 5-10 раз) и фактора мощности (на 3 порядка) по сравнению с исходной кремниевой подложкой. Обнаружена интенсивная электролюминесценция при комнатной температуре в ближней инфракрасной области спектра (1.2-1.6 эВ) для p-i-n диодных структур Al/a-Si:H(p+)/a-Si:H(i)/(НК Mg2Si/a-Si)x/a-Si:H(i)/a-Si:H(n+)/ITO/стекло на основе гидрогенизированного аморфного кремния и встроенных в него мультислоев НК Mg2Si. Показано, что при осаждении Mg на слой аморфного кремния при комнатной температуре за счет перемешивания и силицидообразования возникают большие давления, приводящие к появлению на начальных стадиях роста гексагональной фазы Mg2Si с новыми полупроводниковыми свойствами. Установлено, что при послойном осаждении Sn и Mg при 150 оС механизм роста Mg2Sn является островковым и приводит к формированию развитого рельефа с шероховатостью около 10 нм, а при обогащении магнием наблюдается рост зерен Mg2Sn с сегрегацией его излишков на границах зерен. Исследования температурных зависимостей эффекта Холла в пленках Mg2Sn показали, что в нелегированных пленках основными носителями являются дырки с подвижностью 200-600 см2/(В сек), которые эффективно компенсируют электроны на подложках n-типа проводимости уже при -10 оС. Выращены тонкие нелегированные и легированные алюминием слои Mg2SnxSi1-x с различным содержанием кремния. Установлено, что: (1) пленка Mg2Sn состоит из смеси аморфной фазы переменного состава и НК станнида магния в гексагональной (hex-Mg2Sn) и кубической (cub-Mg2Sn) фазах; (2) НК Mg2Sn ориентированы произвольно относительно кремниевой подложки. При росте пленки Mg2SnxSi1-x на подслое олова по данным ВР ПЭМ на поперечном срезе обнаружено: (1) формирование гетероэпитаксиального слоя гексагонального станнида магния (hex-Mg2Sn) на кремнии толщиной до 7 нм; (2) эпитаксиальная пленка hex-Mg2Sn растет неоднородно: наблюдаются области формирования однодоменной и двухдоменной периодической структуры; (3) пленка hex-Mg2Sn сжата в приграничной области на 17.5 % в направлении перпендикулярном границе раздела hex-Mg2Sn; (4) пленка Mg2Sn растет эпитаксиально от подложки, но при достижении 23-25 слоя начинает формироваться аморфная фаза, а эпитаксия Mg2Sn прекращается. Методами ТФЭ и МЛЭ при температуре 250 оС выращены тонкие пленки Mg2Ge и Mg2GexSi1-x на кремнии на Si(111)7х7, которые обладают непрямой запрещенной зоны с шириной от 0.63 до 0.52 эВ, что делает их перспективными для создания фотоприемников на ближний и средний ИК-диапазон. Определены холловские характеристики пленок германида магния на высокоомном кремнии: подвижность носителей (дырок, 300-860 см2/В сек) и их концентрация (1016 – 1017 см-3), а также зависимость подвижности от температуры в диапазоне от 300 до 500 К. Библиография Приведена в авторской редакции.

  • 排序方式:
  • 1
  • /
  • 1.Mg2Sn heterostructures on Si(111) substrate

    • 关键词:
    • MgSn nanocrystals grown in silicon; Thermoelectric materials; Stabilityof nanostructures grown in silicon;THERMOELECTRIC PROPERTIES; MG2SI1-XGEX; MAGNESIUM
    • Dozsa, L.;Galkin, N. G.;Pecz, B.;Osvath, Z.;Zolnai, Zs.;Nemeth, A.;Galkin, K. N.;Chernev, I. M.;Dotsenko, S. A.
    • 《APPLIED SURFACE SCIENCE》
    • 2017年
    • 405卷
    • 期刊

    Thin un-doped and Al doped polycrystalline Mg-stannide films consisting mainly of Mg2S semiconductor phase have been grown by deposition of Sn-Mg multilayers on Si(111) p-type wafers at room temperature and annealing at 150 degrees C. Rutherford backscattering measurement spectroscopy (RBS) were used to determine the amount of Mg and Sn in the structures. Raman spectroscopy has shown the layers contain Mg2Sn phase. Cross sectional transmission electron microscopy (XTEM) measurements have identified Mg2Sn nanocrystallites in hexagonal and cubic phases without epitaxial orientation with respect to the Si(111) substrate. Significant oxygen concentration was found in the layer both by RBS and TEM. The electrical measurements have shown laterally homogeneous conductivity in the grown layer. The undoped Mg2Sn layers show increasing resistivity with increasing temperature indicating the scattering process dominates the resistance of the layers, i.e. large concentration of point defects was generated in the layer during the growth process. The Al doped layer shows increase of the resistance at low temperature caused by freeze out of free carriers in the Al doped Mg2Sn layer. The measurements indicate the necessity of protective layer grown over the Mg2Sn layers, and a short time delay between sample preparation and cross sectionalTEM analysis, since the unprotected layer is degraded by the interaction with the ambient. (C) 2017 Elsevier B.V. All rights reserved.

    ...
  • 2.MgSn-2 heterostructures on Si(111) substrate

    • 关键词:
    • Binary alloys ; Substrates ; Film preparation ; High resolution transmission electron microscopy ; Rutherford backscattering spectroscopy ; Point defects ; Tin alloys ; Silicon wafers ; Temperature;Backscattering measurement ; Cross;sectional transmission electron microscopy ; Electrical measurement ; Epitaxial orientations ; Increasing temperatures ; Oxygen concentrations ; Semiconductor phase ; Thermo;Electric materials
    • zsaL.;GalkinN.G.;czB.;thZ.;ZolnaiZs.;methA.;GalkinK.N.;ChernevI.M.;DotsenkoS.A.
    • 《Applied Surface Science》
    • 2017年
    • 405卷
    • 期刊

    Thin un-doped and Al doped polycrystalline Mg-stannide films consisting mainly of Mg2Sn semiconductor phase have been grown by deposition of Sn-Mg multilayers on Si(111) p-type wafers at room temperature and annealing at 150 °C. Rutherford backscattering measurement spectroscopy (RBS) were used to determine the amount of Mg and Sn in the structures. Raman spectroscopy has shown the layers contain Mg2Sn phase. Cross sectional transmission electron microscopy (XTEM) measurements have identified Mg2Sn nanocrystallites in hexagonal and cubic phases without epitaxial orientation with respect to the Si(111) substrate. Significant oxygen concentration was found in the layer both by RBS and TEM. The electrical measurements have shown laterally homogeneous conductivity in the grown layer. The undoped Mg2Sn layers show increasing resistivity with increasing temperature indicating the scattering process dominates the resistance of the layers, i.e. large concentration of point defects was generated in the layer during the growth process. The Al doped layer shows increase of the resistance at low temperature caused by freeze out of free carriers in the Al doped Mg2Sn layer. The measurements indicate the necessity of protective layer grown over the Mg2Sn layers, and a short time delay between sample preparation and cross sectionalTEM analysis, since the unprotected layer is degraded by the interaction with the ambient. © 2017 Elsevier B.V.

    ...
  • 3.Non-doped and doped Mg stannide films on Si(111) substrates: Formation, optical, and electrical properties

    • 关键词:
    • MG2SI SINGLE CRYSTALS; THERMOELECTRIC PROPERTIES; MAGNESIUM STANNIDE;SEMICONDUCTING PROPERTIES; TEMPERATURE-DEPENDENCE; SOLID SOLUTIONS;MG2SI1-XGEX; SILICIDE; CONDUCTIVITY; MG2SI-MG2SN
    • Galkin, Nikolay G.;Galkin, Konstantin N.;Goroshko, Dmitrii L.;Chernev, Igor M.;Shevlyagin, Alexander V.;Dozsa, Laszlo;Osvath, Zoltan;Pecz, Bela
    • 《ICSS Silicide Conference》
    • 2015年
    • JUL 19-21, 2014
    • Tokyo Univ Sci, Tokyo, JAPAN
    • 会议

    Thin (45-50 nm) non-doped and doped (by Sb and Al) polycrystalline Mg stannide films consisting mainly of Mg2Sn semiconductor phase and containing small quantity of Mg2Si phase have been grown by multiple layer deposition at room temperature and single step annealing at 150 degrees C of the (Sn-Mg) bi-layers on Si(111) n-type wafers with 7.5 Omega cm resistivity. Optical spectroscopy data have shown that the grown Mg stannide films is a semiconductor with direct band gap of 0.17 +/- 0.03 eV, with second and third direct interband transitions at 0.34 +/- 0.02 and 0.45 +/- 0.04 eV. An undispersed refraction index: n(0) = 3.78 +/- 0.06 was calculated from phonon energy dependence of the refraction index of the grown films in the 0.12-0.20 eV energy range. Temperatures dependent Hall effect measurements have revealed about 0.28 eV electrical band gap value in the films. (C) 2015 The Japan Society of Applied Physics

    ...
  • 4.Formation of Mg silicides on amorphous Si. Origin and role of high pressure in the film growth

    • 关键词:
    • Inorganic compounds; Semiconductors; EELS; TEM; Phase transition
    • Dotsenko, S. A.;Gouralnik, A. S.;Galkin, N. G.;Galkin, K. N.;Gutakovski, A. K.;Neklyudova, M. A.
    • 《MATERIALS CHEMISTRY AND PHYSICS》
    • 2014年
    • 148卷
    • 3期
    • 期刊

    Growth of Mg film on amorphous Si (a-Si) at room temperature in UHV conditions was studied in situ with optical differential reflection spectroscopy and electron energy loss spectroscopy. The phase composition of the film was also studied by high-resolution transmission electron microscopy. The mechanism of suicide film growth on a-Si is considered. The origin of internal stress within the growing film and its role in the silicide film growth process are discussed. Due to high pressure occurring within the growing film, the first phase to form is the hexagonal suicide phase h-Mg2Si. According to the DRS data, the phase h-Mg2Si is semiconducting. The new peak in the differential reflectance spectrum is assigned to the h-Mg2Si. At later stages of Mg deposition the cubic silicide phase c-Mg2Si grows. (C) 2014 Elsevier B.V. All rights reserved.

    ...
  • 排序方式:
  • 1
  • /