비접촉 기반 풀컬러 Micro LED 디스플레이 고속고정밀 검사장비 개발

项目来源

韩(略)科(略)

项目主持人

주(略)

项目受资助机构

노(略)

项目编号

1(略)1(略)5(略)

财政年度

2(略),(略)0

立项时间

未(略)

研究期限

未(略) (略)

项目级别

国(略)

受资助金额

1(略)0(略)0(略)0(略)

学科

未(略)

学科代码

未(略)

基金类别

소(略)기(略)((略))

关键词

未(略)

参与者

未(略)

参与机构

未(略)

项目标书摘要:연구(略).주관기관-5um(略)공간 해상도 구현(略) 및 복합 조명계(略)개발-1 nm 분(略)1 M pixel(略)ging 분광기 (略)를 위한 레이저 (略)homogeneo(略)-CCD chip(略)개발을 통한 분광(略)ay detect(略)화 기술 개발-W(略)r 설계 및 제어(略)데이터 고속 처리(略) 개발 2.참여기(略) PM 구동 R,(略)50 x 150 (略) LED 플립 전(略)-ACF 소재 적(略) Mini LED(略) 조건 최적화-2(略)OI/PL/EL (略)한 불량 유형 분(略)icro LED (略) 정의 및 DB (略)-외관 및 분광정(略)데이터베이스 구축(略)이션 프레임워크 (略)의 AOI 기반 (略)닝 알고리즘 개발(略)PL/EL 기반 (略)알고리즘 개발-M(略)I,PL 기반 불(略)발 및 검증 4.(略))-Mini LE(略) 평가 및 Fee(略)의견 제시    (略)PL/AOI 요소(略)스트 시스템 구축(略)l 이하의 공간 (略)비전 광학계 및 (略)검사 기술 개발-(略) 프로그램을 이용(略)비구면/compe(略)설계 및 최적화 (略)리 180~230(略)Aberratio(略)미징 분광기 개발(略)els/s급 고속(略)-고속 PL 검사(略)eeping 및 (略) 광원 광학계 설(略) 기준 40분 이(略)간해상도)가능한 (略)tector 고속(略)개발-Vision(略)aligner 설(略)발-CUDA 기반(略) 처리 알고리즘 (略)트 시스템을 통한(略),B 패널(1참여(略)EL/AOI 유효(略) 따른 개발 기술(略)2.참여기관 1-(略) 면적에 25 P(略),G,B 패널 설(略) μm2 이하 M(略)공정 기술 최적화(略)100 μm 두께(略)접합/본접합 공정(略)PPI급 패널 P(略) 비교 평가를 통(略)및 결함 정의-M(略)olation 크(略)0 μm,80 x(略)ro LED 칩 (略)cro LED 칩(略)정의 및 DB 확(略)Micro LED(略) 데이터 특성 분(略) DB 구축과 머(略) 선정-머신러닝 (略) 추론 결과를 검(略)된 SW 프레임워(略)ED의 AOI 기(略) 필요한 Deno(略)ological (略)uper-reso(略)한 영상 전처리 (略) 정확도에 미치는(略)출-Mini LE(略) 불량 분석 머신(略)ervised l(略)즘 적용 및 최적(略)참여기관 3(수요(略)D Size 검사(略)검증-PL/EL (略) 및 기준 선정 (略)dback    (略) 요소기술 개발을(略) 구축하고 시제품(略) 요소 기술 도출(略),beam swe(略) 고속 동기화,각(略)에 최적 파장 선(略)을 통해 개발중 (略) 즉각적 디버깅이(略) RnD 플랫폼으(略)의 고속 측정 및(略)처리 기술 확보-(略)성 분석으로 결함(略)한 정의와 분석 (略) LED를 이용한(略)계 DB 확보와 (略)o LED 머신러(略)른 최적화 요소 (略)사 결과의 fee(略)발 기술의 유효성(略)

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